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Pore Characterization in Low-k Dielectric Films Using X-Ray Reflectivity: X-Ray Porosimetry

Name: Pore Characterization in Low-k Dielectric Films Using X-Ray Reflectivity: X-Ray Porosimetry
Price: 281.49 BOB
Availability: InStock

ID del producto: 287271514

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Descripción

Pore Characterization in Low-k Dielectric Films Using X-Ray Reflectivity: X-Ray Porosimetry

Preguntas comunes

Trustpilot

Trustscore 4.5 | Más de 7,300 reseñas

Por Neha S.

Excelente comunicación durante todo el proceso de pedido. El producto es perfecto.

Hace 2 semanas

Reema J.

Plataforma perfecta para artículos difíciles de encontrar. La entrega fue rápida.

Hace 1 mes

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1. Suresh K.

Me impresionó mucho la calidad y la entrega rápida. Volveré a comprar aquí.

Hace 4 días

Fátima A.

El mejor envío internacional que he probado. ¡Vale cada centavo!

Hace 3 días

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